日期:2013-04-16瀏覽:1667次
1)涂層測厚儀測量時不應在緊靠試件的突變處,如邊緣、洞和內轉角等處進行測量。
2)基體金屬特性 對于磁性方法,標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度,應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。
3)基體金屬厚度:檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度,如果沒有,進行校準后,可以測量。
4)曲率:不應在試件的彎曲表面上測量。
5)涂層測厚儀讀數次數:通常由于儀器的每次讀數并不*相同,因此涂層測厚儀必須在每一測量面積內取幾個讀數。覆蓋層厚度的局部差異,也要求在任一給定的面積內進行多次測量,表面粗造時更應如此。
6)磁場:周圍各種電氣設備所產生的磁場會嚴重干擾磁性測厚工作
7)測頭取向:測頭的放置方式對測量有影響,在測量時應該與工件保持垂直
8)涂層測厚儀測量前,應清除表面上的任何附著物質,如塵土、油脂及腐蝕產物等,但不要除去任何覆蓋層物質。
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